蘇州訊芯微電子設備有限公司回收各種進口二手儀器儀表 檢測儀器 網絡分析儀 示波器 廢舊儀器 工廠淘汰閑置儀器 研究所實驗室更新儀器
主要回收品牌：Agilen安捷倫, Tektronix泰克, Anritsu安立, Litepoint美國, Spiren博世倫, ABO日本, KEITHILEY吉時利, YOKOGAWA橫河, KENWOOD建伍, KIKUSUI掬水,HAMEG惠美, HIOKI日置, IWATSU巖崎, FULK福祿克, LeCay力科, konica minolta美能達, Nitsuki, RIGOL普源,PRODIGIT博計,MARCONI馬可尼, Kyoritsu共立, SANWA三和, CON普康, RION理音, GRAPHTEC日圖, COSMOS新宇宙, ONOSOKKI小野, ARON安羅, TEXIO德士, EXTECH華儀, Anite安耐特, Maynuo美而諾, KEISOKU GIREN,計測 Kaise凱世, LEADER力達,Mitutoyo三豐…
主要回收類別：電源表，示波器，,觸摸屏,plc，服務器，硬盤，萬用表，功率計，頻率計，綜合測試儀，數據采集儀，濾波器，激光源，光衰減器，漣漪計，歐姆計，頻譜分析儀，網絡分析儀，三次元，硬度計，信號發生器，誤碼分析儀，藍牙測試儀，顯微鏡,型號板卡，GPIB卡，探頭，等各式進口二手儀器儀表
Agilent E8363C PNA 微波網絡分析儀
主要特性與技術指標
10 MHz 至 40 GHz
110 dB 的范圍和 <0.006 dB 的跡線噪聲
<26 微秒/點的測量速度，32 個通道，20,001 個測量點
支持 TRL/LRM 校準，提供晶圓、夾具、波導和天線測量
混頻器變頻損耗、回波損耗、隔離和群延遲
放大器增益壓縮、諧波、IMD 和脈沖射頻
描述
可進行通用網絡分析，使用可選的軟件和/或硬件根據您的應用來定制解決方案 — 例如多端口、脈沖射頻等。

Agilent N3381A RF網絡分析儀，300 kHz 至 3 GHz
描述
Keysight N3381A矢量網絡分析儀是PNA系列網絡分析儀平臺的成員，它為當前有嚴格要求的高性能元件測試提供所需要的速度和精度。 通過提供快掃頻速度、寬范圍、低軌跡噪聲和靈活連接的組合，PNA系列能夠應對這樣的測試挑戰。
N3381A是三端口網絡分析儀，能為客戶提供許多可選的能力，使該分析儀能夠滿足您的應用要求。全三端口誤差校正保證了優異的測試精度。
強大的自動測試能力和自助工具使該儀器能完全適應研制開發和生產制造的需要。PNA系列分析儀有16個獨立的測量通道，內裝的硬盤驅動器，并且提供一個標。
300 kHz 至 3 GHz
測試端口上具有128 dB 的范圍
143 dB 范圍，具有直接接入
每點35 μs的掃頻速度
USB 控制的電校準 (Ecal)
COM/DCOM 和 SCPI 編程
可選源衰減器、直接和源接入
Windows 2000 操作系統

測量向導助手軟件
技術指標
寬范圍：測試端口上的范圍 > 123 dB（典型值）
快的測量速度：41 ms，進行全雙端口校準，掃描 1601 點時
低的跡線噪聲：0.004 dB rms，70 kHz IFBW 時
特性
內置 Visual Basic for Applications（VBA）
強大的分析和誤差校正功能
隨時升級所有可用的 ENA 選件
選件配置
E5071C—240 雙端口測試儀 9KHz-4.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—245 雙端口測試儀 100KHz-4.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—440 4端口測試儀 9KHz-4.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—445 4端口測試儀 100KHz-4.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—280 雙端口測試儀 9KHz-8.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—285 雙端口測試儀 100KHz-8.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—480 4端口測試儀 9KHz-8.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—485 4端口測試儀 100KHz-8.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—008 頻率偏置模式
E5071C—010 時域分析能力
E5071C—790 測量向導助手軟件
E5071C—1E5 高穩定度時基

Agilent 8753D 網絡分析儀, 30 kHz 至 3 GHz
主要特性與技術指標
內置S-參數測試儀
可選時域和掃描諧波測量
具有頻率偏置功能的混頻器測試
可選步進衰減器
可用于全部正向和反向測量的內裝S-參數測試裝置，使您能通過一次連接全面評測元件
優異的精度，經過全面的校準
可選時域和掃描諧波測量
用頻率偏置能力作混頻器測試
可選步進衰減器，以擴展源輸出功率范圍
通過/失敗測試，內插誤差校正，測試序列和用戶定義測試頻率，以提高生產能力
2個獨立的顯示通道，以同時測量反射和傳輸特性