



產品描述
蘇州訊芯微電子設備有限公司全國范圍內高價回收,租賃,銷售,維修,保養,培訓X-RAY射線檢測機,X-RAY射線光管,X-RAY射線平板探測器,X-RAY射線增強器及各種X-RAY射線檢測機配件。中介重酬,財富熱線
錫膏印刷之后
如果錫膏印刷過程滿足要求,那么ICT發現的缺陷數量可大幅度的減少。典型的印刷缺陷包括以下幾點:
A.焊盤上焊錫不足。
B.焊盤上焊錫過多。
C.焊錫對焊盤的重合不良。
D.焊盤之間的焊錫橋。
在ICT上,相對這些情況的缺陷概率直接與情況的嚴重性成比例。輕微的少錫很少導致缺陷,而嚴重的情況,如根本無錫,幾乎總是在ICT造成缺陷。焊錫不足可能是元件丟失或焊點開路的一個原因。盡管如此,決定哪里放置AOI需要認識到元件丟失可能是其它原因下發生的,這些原因必須放在檢查計劃內。這個位置的檢查直接地支持過程跟蹤和特征化。這個階段的定量過程控制數據包括,印刷偏移和焊錫量信息,而有關印刷焊錫的定性信息也會產生。
邊界掃描技術解決了無法增加測試點的困難,更重要的是它提供了一種簡單而且快捷地產生測試圖形的方法,利用軟件工具可以將BSDL文件轉換成測試圖形,如Teradyne的Victory,GenRad的Basic Scan和Scan Path Finder。解決編寫復雜測試庫的困難。
用TAP訪問口還可實現對如CPLD、FPGA、Flash Memroy的在線編程(In-System Program或On Board Program)。
設計技術
Nand-Tree
Nand-Tree是Intel公司發明的一種可測性設計技術。在我司產品中,現只發現82371芯片內此設計。描述其設計結構的有一一般程*.TR2的文件,我們可將此文件轉換成測試向量。
ICT測試要做到故障定位準、測試穩定,與電路和PCB設計有很大關系。原則上我們要求每一個電路網絡點都有測試點。電路設計要做到各個器件的狀態進行隔離后,可互不影響。對邊界掃描、Nand-Tree的設計要安裝可測性要求。
印刷圖案
所有印有圖案的PCB也是能夠被檢查的,例如,當元 器件的邊框或元器
件本體上的字母單出現在組件的某個 區域從而干擾對其他部分的檢查時,可以手工調整檢查程 序。盡管如此,在生產允許的范圍內,圖案的印刷范圍仍 然有一個較大的選擇,因此,減少非反射性標識印刷(黑 或暗黃)值得加以考慮。另外一個可能出現的情況是需要 有選擇地印刷標識:例如,當某些特定的器件(如霍爾傳 感器)正面向下時就必須印刷成白色;而另一種情況是印 有性標志的有傾斜角的鉭電容器件;這樣能使標識和背 景形成鮮明的對比,使得檢查的圖像更加清晰。
基準點
設備可以檢查所有 類型的基準點,而且任 何構件都可以被定義成 一個基準點。
雖然三個基 準點可以補償一塊單板的 變形,但通常情況下只需 要確定兩個基準點就可以 了。每個基準點至少離單 板邊緣5mm(0.2”)。 十字形、菱形、星形等比較適用,并建議使用統一的黑背 景。此外,十字形的基準點特別有優勢,他們在檢測光下的圖像十分穩定且可以被快速和容易地判定。
確認壞板
設備有能力檢查所有已知類型的壞板標識。板上的任 何構件都可以被定義為壞板標識。這里建議采用與上述基 準點的判定相類似的方法,即在可能的情況下,先通過 檢查整板或已完成組裝的單板上的單個壞板標識來進行確 認。板上每個單的壞板標識只有在整板的壞板標識檢查失敗后才會被逐一檢查;整板的壞板標識應該定位于PCB的邊上。
避免焊點反射
焊點的形狀和接觸角是焊點反射的根源。焊點的形成 依賴于焊盤的尺寸、器件的高度、焊錫的數量和回流工藝 參數。為了防止焊接反射,應當避免器件對稱排列。
AI插件機分類
1,松下插件機
松下臥式插件機(軸向插件機):AV131插件機、AVK3插件機、AVK2B插件機、AVK2插件機、AVK插件機、AVF插件機等;
松下立式插件機(徑向插件機):RL131插件機、RG131插件機、rhs2b插件機、rhs2插件機、rhs插件機、RH3插件機、RH6插件機等;
松下跳線機:jvk3、jvk2、jvk1;
2,環球插件機
環球插件機立式插件機6380 6360系列 環球臥式插件機6295 6296系列等;
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